[半导体器件低频噪声测试系统]李文军

【半导体器件低频噪声测试系统】李文军.pdf半导体器件低频噪声测试系统 李文军 导师:金恩顺 副教授 石家纬 教授 专业:无线电电子学 一九九八年六月二日吉林大学硕士论文 目录 第一章概论 1低频噪声测试目的 1系统任务及特点 第二章半导体器件低频噪声模型 A 2白噪声 2电阻热噪声 2散弹噪声 2/f噪声 2表面对1/f噪声的影响 S 2载流子扩散与注入对1/f噪声的影响,2g-r噪声 第三章半导体器件低频噪声成份分析方法3现阶段其它分析方法3本系统的成份分析方法第四章半导体器件低频噪声成份测试系统 4低噪声测试简介4测试系统4互谱测量原理4测量过程吉林大学硕士论文 第一章概论 1低频噪声测试目的 随着对半导体器件可靠性要求的提高,半导体器件可靠性的筛 选,愈来愈引起人们的重视。目前,国内外常规可靠性筛选是采用 高温存储,功率老化以及各种环境应力实验等方法,这些方法,既 费时文费力,并且造成大量器件损坏。因而,如果能从半导体器件 低频噪声角度研究可靠性,找出它们之间的内在联系,就可能用低 频噪声来预测器件寿命,从而为器件可靠性筛选提供一种无损,可 靠,快速的新方法。另外,低频噪声测量技术对于新型低噪声器件 的研制,以及半导体器件噪声机理研究有着重要的应用。
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