【半导体器件低频噪声测试系统】李文军.pdf

半导体器件低频噪声测试系统李文军导师:金恩顺副教授石家纬教授专业:无线电电子学一九九八年六月二日

吉林大学硕士论文目录第一章概论 1低频噪声测试目的 1系统任务及特点第二章半导体器件低频噪声模型 A 2白噪声 2电阻热噪声 2散弹噪声 2/f噪声 2表面对1/f噪声的影响 S 2载流子扩散与注入对1/f噪声的影响,2g-r噪声第三章半导体器件低频噪声成份分析方法3现阶段其它分析方法3本系统的成份分析方法第四章半导体器件低频噪声成份测试系统 4低噪声测试简介4测试系统4互谱测量原理4测量过程

吉林大学硕士论文第一章概论 1低频噪声测试目的随着对半导体器件可靠性要求的提高,半导体器件可靠性的筛选,愈来愈引起人们的重视。目前,国内外常规可靠性筛选是采用高温存储,功率老化以及各种环境应力实验等方法,这些方法,既费时文费力,并且造成大量器件损坏。因而,如果能从半导体器件低频噪声角度研究可靠性,找出它们之间的内在联系,就可能用低频噪声来预测器件寿命,从而为器件可靠性筛选提供一种无损,可靠,快速的新方法。另外,低频噪声测量技术对于新型低噪声器件的研制,以及半导体器件噪声机理研究有着重要的应用。