【用电导数技术研究半导体激光器可靠性】马靖.pdf

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用电导数技术研究半导体激光器可靠性 马靖 专业:半导体物理与半导体器件物理 指导教师:石家纬教授目 誉 引言 第一章可靠性的概述.第二章半导体激光器的失效 第三章实验原理及方法.第四章用电导数技术所得器件参数 与器件可靠性关系的分析 第五章m值的理论计算及分析.,结论 致谢:参考文献.是在一定电流下看器件在老化期间输出功率的变化,或在一定 的输出功率下看老化期间驱动电流的增长。通常在老化过程中,当器件输出功率下降到初始值的70 或驱动电流上升到初始值 时的1倍时,则认为该器件已失效。为了使器件老化时间缩 短还能得到器件寿命,可用加速老化方法,即器件老化时,增 高温度,加大电流,用外推公式推出常温下某输出功率下的器 件的使用寿命 ].在通常用的电老化筛选过程中,好的器件也要经受筛选的 考验,要受到一定损伤,影响使用寿命。在长时间电老化过程中,如果遇到系统失控或突然停电等意外情况,会使成批器件损坏,损失将是严重的。