【电光采样技术基础研究】刘宗顺.pdf

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电光采样技术基础研究 刘宗顺 指导教师:衣茂斌副教授 业:半导体物理与器件 一九九二年六月目录 第一童 电光采样技术概述 1 电光采样技术发展背景-1 电光采样技术概述-1 半导体激光器电光采样-1 本论文期间的研究工作 -14 第二章 电光采样技术原理-16 2 电信号采样原理-16 2 线性电光调制原理-2 电光采样技术-25 第三章 增益开关InGaAsP/InPBC半导体 激光器产生超短光脉冲的研究 3 引言-29 3 速率方程-30 3 计算结果与分析-33 3.超快电子器件以及采样技术、微弱信号检测技术的优势有机 地结合在一起,在10-188(p8)或更短的时间范围内的研究 和应用上获得了质的飞跃.图I.I-1是J.A.Va1dmanis第一次演示的微微秒电光采样 系统,该系统使用的采样光源是环形锁模染料激光器,电光 晶体是NiLi0a晶体,微弱电光信号的检测使用了差动放大器、锁相放大器和信号平均仪。这种系统具有极好的时间分辨率 和电压灵敏度.CWArgon Lase Riwuogelocie Lock-in 图1.