【半导体激光采样技术研究】孙伟.pdf
分类号:TN248 密级:内部 半导体激光器电光采样技术研究 孙伟 导师:高鼎三教授 衣茂斌副教授 专业:半导体物理与 半导体器件物理 论文评国人:周两现刘式佛、杨思译 一九九一年月 日
开展了对微波信号、超高速电子器件和高速 光电探测器(包括GeAPD和InGaAsPIN)等一系列 测量研究工作。其中,对于高速探测器的测量研 究,通过傅立叶变换和进一步的退卷积运算数据 处理,同时给出了器件的本征脉冲响应波形和频 率响应曲线.最后,根据本文的工作,初步探讨了用于高 速集成电路动态特性无触点检测的半导体激光器 电光采样仪的结构和制造方案。
实验研究和结果讨论 5小结.第六章电光采样测量研究与分析6 电光采样系统性能的测量研 究与分析 6 2超高速器件和高速长波长 探测器的测量研究与分析.111 第七章 半导体激光器电光 采样技术的展望.结束语 致谢.参考文献 博士论文期间发表 的论文及科研成果.