[半导体激光器电采样测量技术的研究]王艳辉

【半导体激光器电采样测量技术的研究】王艳辉.pdf吉林大学 硕士论文 题 目:半导体激光器电光采样测量技术的研究 ELECTRO-OPTICSAMPLING MEASUREMENTTECHNIQUE USINGSEMICONDUCTORLASER 专 业 半导体物理与半导体器件物理 作 者 王艳辉 指导教师 衣茂斌副教授 吉林大学电子科学系提 要 本文猫述了一个用于测量高速长波长探测器响应特性和无触 点检测集成电路内部电波形的电光采祥系统,此系统用1um 增益开关半导体激光器作为采祥和泵浦光源:叙述了采样系统的 工作原理和设计思想,并对系统的性能作了详细的测量研究,确 定了系统的电压灵敏度为0mv/√Hz.工作频率可在1-5GHz范 围内连续改变.时间分辩率达16PS:通过对超短电信号的电光 采样测量证明了此系统的时间分辨高于上升时间为25PS的Tek710 1采样示波器。测量探测器的方法,测量带宽可达20GHz{1!,但这种方法对光源 典求骄刻需要选择两个频率相当稳定的半导体激光器,差频调 节也难以准确控制。利用半导体激光器的调频边带技术,测量探 测器的响应带宽也可达到几十千兆[2-,但这种技术要求激光器 要有好的时问相干性,在高频调制下仍然能保持单模工作等等.为了克服以往测量技术的不足,满足高速器件和集成电路新的发 展要系年由j.A.Valdmains等人提出了电光采样测量技术 3,并以其巨大的优越性迅速发展完善,现在各种不同的采样 系统已被广泛应用于高速探测器,高速集成电路以及各种微微秒 光电器件的则量研究。
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