【半导体激光器电采样测量技术的研究】王艳辉.pdf

吉林大学硕士论文题目:半导体激光器电光采样测量技术的研究 ELECTRO-OPTICSAMPLING MEASUREMENTTECHNIQUE USINGSEMICONDUCTORLASER 专业半导体物理与半导体器件物理作者王艳辉指导教师衣茂斌副教授吉林大学电子科学系

提要本文猫述了一个用于测量高速长波长探测器响应特性和无触点检测集成电路内部电波形的电光采祥系统,此系统用1um 增益开关半导体激光器作为采祥和泵浦光源:叙述了采样系统的工作原理和设计思想,并对系统的性能作了详细的测量研究,确定了系统的电压灵敏度为0mv/√Hz.工作频率可在1-5GHz范围内连续改变.时间分辩率达16PS:通过对超短电信号的电光采样测量证明了此系统的时间分辨高于上升时间为25PS的Tek710 1采样示波器。

测量探测器的方法,测量带宽可达20GHz{1!,但这种方法对光源典求骄刻需要选择两个频率相当稳定的半导体激光器,差频调节也难以准确控制。利用半导体激光器的调频边带技术,测量探测器的响应带宽也可达到几十千兆[2-,但这种技术要求激光器要有好的时问相干性,在高频调制下仍然能保持单模工作等等.为了克服以往测量技术的不足,满足高速器件和集成电路新的发展要系年由j.A.Valdmains等人提出了电光采样测量技术 3,并以其巨大的优越性迅速发展完善,现在各种不同的采样系统已被广泛应用于高速探测器,高速集成电路以及各种微微秒光电器件的则量研究。