【波场递推法在正演中的应用】毕玉英.pdf

目录前言第一章薄层反射特征 1薄层概念 2薄层的分辨率 3薄层响应的振幅 4层状韵律薄层 5积分能谱 6模型说明:第二章平面反射、透射系数与AVO特征 1单界面(固一固)反射、透射系数 2AVO技术 3AVO模型计算 4临界后的反射特征第三章二维粘弹介质中完全波场正演 1基本原理 2模型分析附图

摘要在正演技术中波场递推法尤其适用于水平均匀的层状构造。本文的目的是从波动理论最基础的地质模型入手,利用波场递推技术,分析一维正演中薄层特征,其中提出了加枚积分能谱的概念从而更有效地识别了薄层。第二章里重点分析了AVO变化特征,运用综合反射,透射系数的矩阵法,本文同时获得了转换波的AVO特征。波场递推法在二维正演中更显示了它的灵活性和优越性。由于采用频域波场递推式,常Q粘弹性吸收作用被很容易地加入其中.由于采用复反射、透射系数,面波场、折射波场也包含在内,从而大偏移距接收成为可能。它的灵活性表现在接收、激发位置的随意性上,从而可获取多种记录形式的韵面。

对相同强度和极性的相距很近的反射界面稍微改善了这个极限。Widess将同等强度,反极性的非常靠近的反射面的分辨率极限扩展到入/8。Ricker和Widess是在研究模型的基础上得到此结果,受其应用实际情况与模型相似程度的限制.本文在做若干薄模型后发现,当层厚小于四分之一子波波长时,视分辨力曲线就偏离子真分辨力曲线,在调谐厚度处(/8)它们相交,然后视分辩力曲线几乎成为直线,这时两个界面的反射特征成了一个界面的反射。波长比薄层厚度大得多就不能可靠地确定干涉和相移。这应验了Widess理论.在不考虑诸多噪声等干扰因素的情况下,薄层的垂直分辩率只与子波的波长有关。