本页收录《越高真空CVD生长SiGe材料的特性初步研究》,资料类别为专题研究资料。本页展示资料概况及部分扫描内容,同时提供数字文件获取信息。本数字文件共71页,文件大小约4.87MB。
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- 专题
- 越高真空CVD生长SiGe材料的特性初步研究
- 类别
- 专题研究
- 页数
- 71页
- 大小
- 4.87MB
【越高真空CVD生长SiGe材料的特性初步研究】.pdf谨以此文 献给我的父亲母亲 谁言寸草心 报得三春晖 黄靖云浙 江 大学 项 古 学 位 论 文 1997,§6 组分.S6 生长速率第三部分理论研究.第七章Si1-xGex/Si异质结构中热应力对临界厚度的影响.7 应变层临界厚度定义S7 人们对临界厚度的研究 S7 现在的理论计算.S7 结果与讨论 第八章 利用UHV/CVD系统外延Si1-xGex合金表面偏析研究 表面和偏析 引言 S8 实验及测量 8 结果与讨论 结论.第九章 UHV/CVD系统外延Sil-xGex/Si过渡区特性分析 9.浙 江大学硕士学位论文1997,ABSTRACT Si-xGex/Siheterostructuresandsuperlatticeareakindofnewattractive semiconductormaterialsforpotentialapplicationsinmicro-electronicandphoto electronic devices.It is named“new silicon material”because SiGe technology is compatible with perfect silicon technology.
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