【表面形貌的扫瞄电镜-微机检测方法研究】.pdf

目录 中英文摘要 第一章绪论-1扫描电子显微镜在表面形貌测量中的应用 1-2扫描电镜测量表面形貌的方法综述 1-3 表面形貌表征、评价的进展-4本文的研究内容 第二章 用扫描电镜微机量澜表面形貌 2-1 测量原理-2 表面粗糙形貌的微机测量 2-3 表面形貌微机量测的实验及结果分析 第三章 表面三维形貌的数据处理-1表面三维形貌数据的数字滤波 3-2 表面粗糙形貌的三维评定参数 3-3 表面粗糙度的二维谱估计,3-4表面粗糙度的二维谱估计实例及分析 第四章 结语.致谢
摘要 本文介绍了扫描电子显微镜(SEH)在表面三维形貌测量中的应用,并在综合分析用SEM测量表面形貌的各种方法的基础上,着重讨 论了扫描电镜微机量测表面形貌的原理和方法,建立了一套完整的 湖量装置,并提出了表面形貌三维信息的二维数据处理方法,编制 了一套较为完善的表面形貌参数分析和谱分析的软件系统.对潮量结果分析表明:SEM微机量测法能较为有效地实现表面形 貌的三维测量,特别是对于有较明显特征的被测表面,能够得到较 理想的结果:对于随机表面完全可以用统计参数加以描述,而对于 率结构。
浙江大学研究生学位论文用纸P 立体形态进行观察和分析,以研究相形成机理及其三维立体形态特 征.同时在试样原位动态分析方面,SEM也显示了较突出的优越性.但SEM的像衬度是由CRT荧光屏上不同区域的不同亮度形成的,图像 的亮度即信号的强度与被测表面的高度并不是线性关系,因此观察 SEM图像仅获得表面三维形态的立体感,并不能获得表面的高度信息.本文旨在研究用SEM获得表面三维形貌的定量信息的方法,将 仅用于观察分析的SEM开发为能进行表面形貌定量测量的多功能仪器,并在此基础上研究对表面形貌的表征和评价方法。 