【用光热偏转法研究光学薄膜的弱吸收特性】.pdf

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浙江大学研究生学位论文用纸 P 第一章引言 随着光学薄膜拔术汹发展,附薄模必各种性能指林也提虹 了越未越高的要求。时于高性能光学薄膜,膜层的微弱收收(吸收在103.10量级),作为薄膜必特性参数之一,B飞资到人们 的不断重视。尤其是在大功率激光四中,模层即使有很微弱的 吸收,也会严重制为激光四的输虫,乡生腔膜损伤,降低光学 薄模必抗激光损伤闻值,甚至导致膜层的,破坏。因此,精确地 测定光学薄膜的微弱吸收,对于指导和改进光学薄膜制备艺,减少膜层吸吸,降低膜层损耗,提高光学薄膜的抗激光损 仿阈值,改善薄膜性能,都有着极其重要的意义.光热法是八十年代初期才发展起来的新技术-]。浙江大学研究生学位论文用纸P.P 这两种技术神,光热法无需严格密封和声隔离,其灵敏度在理论上比 光声法高一个数量级[0]。这一块决定了因光起偏转茫测定薄膜必微 弱吸收,将是一顶切实可行而又很有价值汹2作。本课题的促务就是 要应用光热技求这一十分有效的小照收测量技术进行免学薄膜吸收 特性泌研究.追溯历史,光热偏转技术可以说是起源于光声光谱技木。八 十年代初期,离国学者谢殿w)和美国学者W.B.Jaak是生了一种 基本原理与光声法相通而检测手段有所不同的技术,即光拉偏转 技术。浙江大学研究生学位论文用纸 P 味源 直醒影响测量未精度的理论误差。我们将在此方面做一些 操讨,以期得虫一些有益的结论.本赞的工作五要有以下几个方面:光学 的从理论上时物质的吸收机理进行了分折,并结合薄膜 又.在后虑薄膜收收与基极吸收的情况下,导虫经过修正 的光热方程的解。利用这一结果,给出了定林以及区分体吸山 与表报收汹方法。并通过实验部分予以必实.3.设计制作了一整套计林机控制闭环条择扫描余统 包括A/D转换,I/O接口,三维扫描样品架,操渊四自动 调节机构,光强监控等夕,美现了样品吸收合布的测量以及 测量过捏的自动化.4.
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