[集成电路可靠性]上海科学技术情报研究所上海

【集成电路可靠性】上海科学技术情报研究所上海.pdf毛主帝器果 抓革命,促生产,促工作,促战备.自力更生,艰苦奋斗,破除迷信,解放 鼓足干劲,力争上游,多快好省地建设 备战、备荒、为人民.思想.社会主义。集成电路可靠性 录目 一、集成电路可靠性的一般表示法及其计算(一)与可靠性有关的几个术语 1.可靠性.失效率 3.平均寿命 4.置信度(二)计算举例 二、集成电路的可靠性控制(一)影响集成电路可靠性诸因素 1.可靠性是测出来的吗.设计上的周密考虑 3.工艺质量上的严格控制 4.合理使用及其它 5.原 新材料 工艺规范 生产 L 可靠性试验 用户 工艺发展 工艺试验 参数分析 现场失效 集成电路产品的整个流程示意图 言 引 半导体集成电路是在平面晶体管基础上发展起来的最新一代电子元件。它的可靠性,虽然由于其本身所固有的一些特点,例如内部连接点少,重量轻,体积小,刚性强,元件参数 一致,易于自动化操作和标准化,因而人为因素大大减少等等,而较之单个分离元件组成的 提高了不少。然而由于近代科学技术的飞速发展,它的应用范围越来越广,由它所研制的整 机或系统也愈益庞大、复杂。因此,对集成电路元件的可靠性要求也越来越高。例如,美国 民兵ⅡI型导弹上所用集成电路的平均失效率要求小于0.
———— 文字由OCR识别(未校验)，可能存在错字；请以原始完整版为准。