【晶体光学薄片研究法】地质.pdf

中央人民政府地部推 中等享業学校 為了寶现國家在過渡时期的路與總任務,依照國家建 需要,相穗地培登地算人材,是一项重要而跟互的任務。要求提 高我們地質教育的现有水平,则學智蘇聯先進經驗,是最迫切 需要的:而其中使用鮮聯教材更是對提高利记改教离内容有道接 作用。一九五二年无月甘四日人民日報配论也警經指出:1蘇 各種事的教學計和教材,基本上凿我們是适用的。宠是真正 科學的和密切蹄案售際的。至房與中國管際精合的周题,则可在 今後教率答践中逐渐求得解决。7我们就是不者遣種需要醒费翻 睾了蘇瞬的有開地質教材,作現股我國高等學校、中等專業 學校的教材試用本。
(Tocreonn3nar)1949年於莫 斯科出版的“晶瞪光学薄片研究法”(MeroankaKpHcTannoonrHyeckux ccnenoBaHnA山nk中oe)-营而出的,原著者盒聯契特維里科夫(CeraopkKOB) 原書經蘇聊高等教青部批准作感高等墨校地助探事装的主要参 本書由南京大学探显、飞德滋、韓同蓉、楊美娥四同志影罐.营後罚的“重屈折率安”,原需是彩色圖,因印刷條件所限,收印 成無色的,請者噬谅。
目錄 原序.言 一、晶體光學的基本概念 折射率 晶體折射儀 非精晶介贺和等辅晶系晶體的折射率面 中级晶族(六方、三方、正方或四方)晶體的折射率面 低级晶族(刹方、罩斜、三刹)的晶體折射率面 折射率椭圆體 單轴品體的折射率椭固體 變轴晶體的折射率精回體 光轴角、光轴面和等分的色散 固體的光學分類 二、晶體的光學研究法 概.偏光微鏡 微鏡的弹備工作:34 一個偏光鏡下的觀察 在正交偏光籁下用平行光的觀察 在正交偏光鏡下用聚敛光的觀察 测定晶體的光性的系統程序 岩石薄片研究方法 