【超纯金属与半导体材料2】上海科学技术编译馆上海.pdf

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20-37 王渭源 王天聪 曹国璨校 莫培根 莫培根 莫培根 目录 现行的高质量单品的生长方法 1.对高质量单品的要求 2.拉晶法(即乔赫拉斯基(Czochralski)法)生长单晶 3.水平区熔匀质法(Zone-Leveling)生长单晶 二、某些特殊要求的单晶生长 1.重掺砷单品的生长 2.刃型位错晶界双晶的生长 3.空心筒状和国盘状单晶的生长 三、片状单品的生长.变通的乔赫拉斯基法 2.过冶熔体中生长带式枝蔓晶片 四、气相外延生长 1.还原GeC法 2.GeH热分解法 3.的碘化物的歧化反应法 4.些杂质很可能是在清洁拉晶锭料和单晶炉系统(地 场、发热元件等)时,由于操作不慎而引进拉晶系统,然后在拉晶过程中进入了晶体。为了生长高质量单 晶,应将这些杂质降至规定的水平以下。可以,有 除金属杂质外,侬所用的拉晶气氛,中还溶解 无影响。当应用石墨地场时,储中也溶解有碳,但并 一般所不完整性是指点缺陷和位錯。在錯单 中一条位錯将会增加4×10/厘米的受主中心.由于散射作用,位錯会减低载流子的迁移率,并且也 是少数載流子的复合中心,后者已为少数流子的 寿命和刃型位错密度間的关系所证实。—3— 单品 Co Co/K 一悬浮内场 迹通孔 一外场 速接杆 悬重 图2悬浮场生长匀质单晶 C杂质漫度,K分布采数 场内掺杂元素B最初瀛度为C:(掺杂料从掺杂管 加入熔体),大增场B最初度为C(掺杂料随装料 时加入),M及MI各表示已生长的晶体量及小增场 内的熔体量(常量),可以导得对应于M时晶体内B CaB=C-(C-KBCi)exp(KBM/M)若便C=C/KB,则CaB=Co,即得恒为C的匀 质单晶。当小堆场下沉至失去悬浮后,上式不再成 立,就不能得到匀质单晶,这部分的重量仅占总投 料量的一小部分。
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