[半导体器件参数测试自动化]-V2

【半导体器件参数测试自动化】.pdf半导体器件参数测试自动化 [苏联]HO.C.卡尔普主 速超程文霖 國防工草品版社让者序 現代无电元件的生产,从整个工艺过程到最后的成品 分类,都在向自动化的方向发展。晶体管的自动分选設备,作为晶体管自动生产中的組成設备之一,或者作为独立的 测試設备,在国外已經使用得相当普遍。測試速度、工作范 圍和测試准确度等性能方面也在不断改进。但是,关于这方 面的技术文献,目前能够见之于中外刊物上的还很少,而且 其中大多数只介貂技术特性,对于工作原理则没有讲解或讲 解不多,往往实际参考价值不大。像本书这样,比较系統地 专門介貂几种晶体管参数自动測試方法的书,则更不多见.本书是苏联拉脱亚科学院电子学与計算技术研究所的 文集“自动化与計算技术”。全书共包括15篇文章。中功率脉冲晶体管自动分类机 1O.C.卡尔普 本文叙述了晶体管自动分类机的研制方法,并 对中等功率脉冲晶体管的测試装置进行了描述。全 部测試单元均系由半导体器件装配成的.生产率一—500个/小时.現代工业正在大量地生产半导体器件。借助試驗台对半 导体器件进行驗和分类,需要花费互大的劳动力,测試地 段占很大面积,而测試的結果未必有足够的客观性。本研究 的目的,是根据技术要求所給定的全部参数来研制晶体管自 动分类的方法和装置。由于晶体管的型号极多,且不同型号 的参数又各不相同,因而决定研究典型的测試方法、测試原 理及测試电路的基本单元,以使能够在不同的組合下用来解 决生产上的具体問题。
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