[半导体器件可靠性]

【半导体器件可靠性】.pdf654103 半导体器件可靠性 《半导体器件可靠性》编写组编 國阮工棠版社《半导体器件可靠性》编写组 编者话 由于我国电子工业的迅速发展,电子产品,尤其是半导体 器件,在各个领域中使用范围不断扩大,随着尖端技术的发 展,对电子产品的可靠性提出了更高的要求,因之可靠性工作 越来越受到重视。为了普及可靠性基本知识,我们编写了这 本书内容主要是针对半导体专业,书中“器件”一词是指 在编写过程中,不少同志提出了宝贵意见,何国伟和许康 同志还对本书进行了审阅和修改,在此表示衷心的感谢！参加本书编写的有:邓永孝、庄鑫秋、金毓铨、耿炳坤、由于我们水平有限,成稿时间较早,书中可能还有很多错 半导体二极管、晶体管和集成电路等而言.本《半导体器件可靠性》。MOS电路和大规模集成电路的失效机理 设计与工艺中的可靠性考虑 可靠性逻辑框图和数学模型 简单系统的可靠性计算(数学模型)抽样表、常用分布表、系数f值表 附录I1国内外集成电路的镜检标准参考 附录I系统可靠性计算用若干公式的推导1 目的和内容 失效模式 失效机理 辐射引起的失效 失效分析方法 设计中的可靠性考虑 提高可靠
———— 文字由OCR识别(未校验)，可能存在错字；请以原始完整版为准。