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半导体存储器及其测试林雨编著学出版,社

序电子计算机的构成主要有信息处理与信息存储两个方面,在信息处理方面,虽然早期曾经用过电真空器件,但很快就被半导体器件和集成电路占领了全部阵地,然而在信息存储方面,则除了少量速度要求很快的寄存器早已半导体化以外,作为大量信息储存用的计算机存储器,直到近几年以前,始终还是利用磁性材料的不同磁化方向来存储信息.但是,近几年来大规模集成电路的飞速发展,使半导体在信息存储方面一举取代了磁心存储器,成为微电子学发展道路中最宽广、最迅速的领域,自前,国际上已经大量生产每片存储4096和 16384位信息的MOS大规模集成电路,其读取速度比磁心体要快好几倍.

前言集成电路是微电子学中最活跃的一支,数字集成电路主要用于电子计算机,数字集成电路分为半导体存储器及随机逻辑集成电路两类.先进的电子计算机及自动化设备都必须大量使用半导体存储器．随着半导体存储器的发展,其测试问题显得越来越重要.为了能够有效、经济地测试半导体存储器,则必须了解半导体存储器的结构、测试方法及测试设备．本书就是为了满足从事计算机、自动仪器及集成电路工作的有关人员的需要而编写的,书中第一章介绍了半导体存储器与计算机的关系,半导体存储器的结构、分类、发展过程及发展方向.第二章以电容存储信息为线索,由简单到复杂,论述了各种存储单元的结构.