[有源电路差错可测性的拓扑分析]郑亦武

【有源电路差错可测性的拓扑分析】郑亦武.pdf美宴 摘要 模拟电路检错是电路与系统领城的一个重要问题.电路差 错可测性的研究又是电路差错理论的一个必不可少的课题,人 们用可测性来判断一个检错方法的有效性,并用作电路可测性 本文主要的研究对象是有源电路K差错诊断可测性的问题:欲寻求一种拓扑方法对含四种受控源的有源电路的可测性做 出判断.首先,文中概述了当前K差错可测性理论研究的现状和 前人的研究成果,分析了前人研究成果的局限性.其中着重阐述 了李于凡模拟差错支路定位的拓扑考虑,一文,并以此文为研 究出发点,该文讨论的对象是无源电路差错可测性的拓扑分析 法,主要结论是公树条件.More 3 ABSTRACT Analog fault diagnosis is an important problem of circuitg and systems.The testability of eircuits is 8 subject of fault dlagnosis which can not be ignored It tells whether diagnosis mathod is valid.It is In this paper the testability problem of active circuits is Btudied.日最.,.第四章有源电路拓扑可测性的例证和结果分析目 第一章K-差错可测性的研究现状和局限性-2K差错可测性的研究现状 第二章无源电路可测性的拓扑分析-1有源电路和无源电路的差别 2-2无源电路可测性的拓扑分析.第三章有源电路可测性的拓扑分析-1有源电路拓扑的直接分析-3有源电路拓扑可测性的零泛器分析-1典型诊断法概术-3现有成果的局限性.
———— 文字由OCR识别(未校验)，可能存在错字；请以原始完整版为准。