[电力半导体器件中间测试技术]王益成

【电力半导体器件中间测试技术】王益成.pdf电力半导体器件 中间测试技术 王益成苏文成编著前言 中间测试是对产品进行质量控制,提高产品合格率及其 可靠性与稳定性的重要手段。对科研、试制来说,中间测试 有利于选择合理结构、改进参数设计、减少盲目性、及时发 现设计中存在的问题。许多新的测试理论及测试方法的不断 出现,必然使电力半导体器件的理论更加完善、充实,使产 本书系统地叙述了电力半导体器件中间澜试的基本原 理、测试方法及其对电力半导体器件特性的影啊。它是在综 合大量资料的基础上结合作者的一些研究工作编写而成的.全书共分十章,其中第一章半导体材料的检测及第十章显 微技术及其在半导体技术中的应用比较通用,国内外有 很多参考文献,为节省篇幅,这两章所列的参考文献较少。22目录 第二章电力半导体器件电流放大系数的测量 52用音频法测量晶闸管的电流放大系数 2用测量晶闸管V-I的方法测量电流放大系数.第三章电力半导体器件少子寿命的测量 3用频率法测量晶闸管长基区少子有效寿命 3开路电压衰减法测量电力半导体器件的少子寿命 3史存电荷法测量硅整流元件的少子寿命 83正弦半波反向恢复法测量电力半导体器件少子寿命82 3线性电流反向恢复法测量电力半导体器件少子寿命84 3光学法测量电力半导体器件少子寿命 53大注入下的硅整流元件和晶闸管少子寿命的测量 第一章半导体材料的检测 1.
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