[数字电路故障诊断]沈嗣昌

【数字电路故障诊断】沈嗣昌.pdf数字电路故障诊断 沈明根据国务院关于高等学校教材工作分工的规定,我部承担了 全国高等学校、中等专业学校工科电子类专业教材的编审、出版 的组织工作。由于各有关院校及参与编审工作的广大教师共同努 力,的紧密配合,从1978年至1985年,已编审、出版了 两轮教材,正在陆续供给高等学校和中等专业学校教学使用.为了使工科电子类专业教材能更好地适应“三个面向”的舒 要,贯彻“努力提高教材质量,逐步实现教材多样化,增加不同 品种、不同层次、不同学术观点、不同风格、不同改革试验的教 材”的精神,我部所属的七个高等学校教材编审姿员会和两个中 等专业学校教材编审委员会,在总结前两轮教材工作的基础上,结合教育形成和测试方法,那么从第八单元起,把讨论的重点转向了数字电 路的可测试设计。第八单元讨论了可测试性的基本概念,介绍了 些提高电路的可测试性的实用方法。第九、十两个单元依次介绍 了组合电路和时序电路的可测试设计技术。第十一单元讨论了 PLA这种在VLSI中常用的电路结构的测试生成和可测试设 计。CMOS工艺在集成电路生产中得到了广泛的应用。发生在 CMOS电路中的固定开路故障将使组合电路转变为时序电路,第 十二单元将介绍CMOS电路的测试和可测试设计。第十三单元 对RAM的测试及可测试设计作了简要的讨论。
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