【可靠性物理】姚立真.pdf

《电子元器件质量与可靠性技术丛书》编审委员会任:李纪南副主任:汤小川郝跃孔学东委员:罗辑何卫东杨崇峰张蜀平赵和义符彬戚伟贾鲲鹏王丽闻俊锋罗雯主编:张鹤鸣编委:(按姓氏笔划排序)王群勇王蕴辉冯晓丽刘明治庄奕琪张德胜杨银堂姚立真莫郁薇贾新章顾英彭苏娥策划编辑:陈晓莉

的基础知识和失效分析技术。全书分为四个部分。首先阐述了电子元器件失效分析中的理论基础,包艺和技术:第二部分论述了失效的物理模型,介绍了失效分析程序、常用的失效分析方法和技术,以及用于失效分析的较先进的微理化分析技术.第三部分结合具体的元器件:微电子器件、阻容元件、继电器及连接器、光电子器件和真空电子器件,以及元器件的引线和电极系统的失效模式和失效机理加以部射效应和抗辐射加固技术.本书供从事各类电子元器件的研制、生产和使用的科技人员、管理人员、质量和可靠性工作者学习与参考,也可供高等学校电子、电工、光电子、真空电子、材料和信息类等相关专业的师生阅读。

过程控制与评价一Cpx、SPC和PPM技术》和《质量与可靠性管理》.我们相信,本套技术丛书的出版,对开展电子元器件质量工作培训,提高我国军用电子元器件质量和可靠性水平,将起到推动和促进作用。