[可靠性物理]姚立真

【可靠性物理】姚立真.pdf《电子元器件质量与可靠性技术丛书》 编审委员会 任:李纪南 副主任:汤小川郝跃孔学东 委 员:罗辑何卫东杨崇峰张蜀平 赵和义符彬戚伟贾鲲鹏 王丽闻俊锋罗雯 主编:张鹤鸣编 委:(按姓氏笔划排序)王群勇王蕴辉冯晓丽刘明治 庄奕琪张德胜杨银堂姚立真 莫郁薇贾新章顾英彭苏娥 策划编辑:陈晓莉的基础知识和失效分析技术。全书分为四个部分。首先阐述了电子元器件失效分析中的理论基础,包 艺和技术:第二部分论述了失效的物理模型,介绍了失效分析程序、常用的失效分析方法和技术,以及用 于失效分析的较先进的微理化分析技术.第三部分结合具体的元器件:微电子器件、阻容元件、继电器 及连接器、光电子器件和真空电子器件,以及元器件的引线和电极系统的失效模式和失效机理加以部 射效应和抗辐射加固技术.本书供从事各类电子元器件的研制、生产和使用的科技人员、管理人员、质量和可靠性工作者学习 与参考,也可供高等学校电子、电工、光电子、真空电子、材料和信息类等相关专业的师生阅读。过程控制与评价一Cpx、SPC和PPM技术》和《质量与可靠性管理》.我们相信,本套技术丛书的出版,对开展电子元器件质量工作培训,提高我国军用电 子元器件质量和可靠性水平,将起到推动和促进作用。
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