[可靠性试验]刘明治

【可靠性试验】刘明治.pdf《电子元器件质量与可靠性技术丛书》 编审委员会 主 任:李纪南 副主任:汤小川 郝跃孔学东 委 员:罗辑 何卫东杨崇峰张蜀平 赵和义 符彬戚伟贾鲲鹏 王丽闻俊锋罗雯 主编:张鹤鸣编 委:(按姓氏笔划排序)王群勇王蕴辉冯晓丽刘明治 庄奕琪张德胜杨银堂姚立真 莫郁薇贾新章顾英彭苏娥 策划编辑:陈晓莉内春简介 本书是“电子元器件质量与可靠性技术”丛书之一。本书在介绍电子元器件可靠性的必要性及基本 机念的基础上,详细介绍了电子元器件的主要可靠性试验和通用的基本可靠性试验的原理、常用设备及 操作程序,进而介绍了电子元器件可靠性试验的设计及技术问题。自的在于提高电子元器件可靠性试 验的水平及技术.是一本实用的参考资料。同时也可作为大专院校相关专业的参考书.未经许可,不得以任何方式复制或抄袭本书之部分或全部内容.版权所有,侵权必究.图书在版编自(CIP)数据 可靠性试验/刘明治编著.一北京:2004.元器件质量与可靠性技术丛书”:《可靠性物理》、《可靠性工程数学》、《可靠性试验》、《统计 过程控制与评价一Ck、SPC和PPM技术》和《质量与可靠性管理》.子元器件质盘和可靠性水平,将起到推动和促进作用。
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