【统计过程控制与评价CpkSPC和PPM技术】贾新章.pdf

《电子元器件质量与可靠性技术丛书》编审委员会主任:李纪南副主任:汤小川郝跃孔学东委员:罗辑何卫东杨崇峰张蜀平赵和义符彬戚伟贾鲲鹏王丽闻俊锋罗雯主编:张鹤鸣编委:(按姓氏笔划排序)王群勇王蕴辉冯晓丽刘明治庄奕琪张德胜杨银堂姚立真莫郁薇贾新章顾英彭苏娥策划编辑:陈晓莉

内喜简介本书是“电子元器件质量与可靠性技术”丛书之一,介绍如何对电子元器件生产过程进行统计质量控制,包括实施SPC技术、C技术和PPM技术的必要性、基本機念和方法,对元器件生产过程应用SPC 技术和C技术时出现的特殊问题和解决办法,重点在于帮助读者掌握如何解决实际应用中的问题.本书为电子元器件质量与可靠性技术培训教材,对从事质量与可靠性工作的技术人员和管理人员是一本实用的参考资料。同时也可作为高等院校电子科学与技术、微电子学、应用物理、电子工程和材科科学等有关专业高年级学生及研究生教材,也适于有关领域的科学家、工程师及高校师生参考。

元器件质量与可靠性技术丛书”:可靠性物理》、可靠性工程数学》《可靠性试验》、《统计过程控制与评价一CP、SPC、PPM技术》和《质量与可靠性管理》.我们相信,本套技术丛书的出版,对开展电子元器件质量工作培训,提高我国军用电子元器件质量和可靠性水平,将起到推动和促进作用。