[扫瞄力显微术]白春礼田芳罗克科学6

【扫瞄力显微术】白春礼田芳罗克科学6.pdf扫描力显微术 白春礼田芳罗克著前言 1986年世界上第一台原子力显微镜(AFM)问世,得到科技界 的普遍重视。十余年来,不仅原子力显微镜本身的分辨率和稳定 性得到极大提高,应用范围愈来愈广泛,而且在原子力显微镜的基 础上,发展出了磁力显微镜(MFM)、横向力(摩擦力)显微镜(LFM)、静电力显微镜(EFM)等仪器,以满足研究不同性质样品 之需要。这些以检测探针与样品表面力为特征并能对样品表面形 貌或对有关物理、化学性质成像的显微镜统称为扫描力显微镜(SFM)。y3y 40) 4)4+i 目录 第一章扫描力显微镜的基本原理 SFM的工作原理 SFM的实验部分 SFM的操作模式 SFM仪器的成像模式 SFM仪器噪音源.SFM仪器的其他设计要求 1SFM的分类 第二章微悬臂及其形变检测 2微悬臂的制备 2微悬臂的设计要求 2微悬臂的制备方法 2微悬臂的机械性能 应力和张力 力矩 弹性系数 振动悬臂的Rayleigh解 振动悬臂的经典解 正常模式 集总体系 示例 2微悬臂的共振增强 2.
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