【電子系統小子樣試驗理論方法】王國玉等著國防工業.pdf
电子系统 小子样试验理论方法 王国玉申绪涧著 汪连栋戚宗锋 张金槐审 网防工草品版社 北京
前言 传统电子系统试验数据处理中一般采用的是建立在经典频率 学观点基础上的统计决策方法。为得到置信度较高的试验结果,需采用较大数目子样检验法,从而使得对每一试验题自都需进行 多次重复的检验,这不可避免地导致了试验周期长、试验成本高等 问题,同时也给试验的组织、指挥、协调和实施带来了很大难度.从解决这些实际问题的角度考虑,需要对传统的大子样检验的试 验方法进行优化和改进,探索出一种小子样试验方法.随着电子系统科技的进步和鉴定评估试验事业的发展,传统 的经典统计方法在应用中越来越多地暴露出其缺点和局限性,如 对试验结果的解释与常识及人的直观思维相矛盾:假设检验问题 会由于误用而产生不合理的结
本书介绍了Bayes小子样方法的理论及其在电子系 统试验中的应用,主要包括:概率论和数理统计的基本理 论及与电子系统试验密切相关的概率分布及其特性.电 子系统试验中现用的数据处理方法及其存在的弊端.Bayes理论的基本内容及其在国防科技领域的典型应用.Bayes统计推断的理论,正态分布总体和二项分布总体未 知参数的Bayes估计和假设检验及其相对于传统方法的 先进性.SPOT(序贯验后加权检验)方法的基本理论,电 子系统试验中的正态总体和二项总体未知参数的SPOT 方法.