[全国高技术重点图书信息获取与处理技术领域可测性设计技术]·陈光□潘中良·电子工业社版

【全国高技术重点图书信息获取与处理技术领域可测性设计技术】陈光？潘中良电子工业.pdf全国高技术重点图书信息获取与处理技术领域 可测性设计技术 陈光潘中良编著《全国高技术重点图书》出版指导委员会名单 主任:朱丽兰 副主任:刘果 卢鸣谷 委员:(以姓氏笔划为序)王大中王为珍王守武牛田佳刘仁 刘果卢鸣谷叶培大朱丽兰孙宝寅 师昌绪任新民杨牧之杨嘉陈芳允 陈能宽罗见龙周炳琨欧阳莲张钰珍 张效祥赵忠贤顾孝诚谈德颜龚刚 梁祥丰 总干事:罗见龙梁祥丰随着一些芯片(ASIC及标准部件)和印制电路板密度的增 加,已经在可测性等基本测试问题上作出了努力。尽管有大量的引 脚,但在一块集成芯片中的大部分结点是无法探测的。如果把一些 芯片封装在一起,安装在电路板上,尤其是放在双面板上,这一问 题就更难以解决。在引脚间距小于0英寸、片与片的间距小于 0英寸时,探头的设计和测试点的可达性问题将使人感到更加 困难.电路板的设计者不得不提供更多的测试点,这就需要额外增 加10 ～30 的板面积,否则他们就要利用表面安装技术(SMT)来节省空间,以弥补这些测试点所需的面积。
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