【数字系统测试及可测试性设计】向东科学.pdf
数字系统测试及可测试性设计 向东编著
前言 计算机日益普遍的推广使用使人们对可靠性的要求越来越高.数字系统的可靠性很 大程度上取决于测试的质量.利用测试手段可确定一个系统的生产与工作是否正确.高速 发展的集成电路技术使得测试开销成为逻辑设计、生产代价的主要部分.虽然D-算法、PODEM算法、FAN算法、SOCRATES算法、TRAN算法及递归学习算法在不同程度上 将测试生成研究推向了一个新的阶段,但是这些方法只成功地解决了组合电路的测试生 成问题.对于高度集成化的电路(特别是含时序逻辑较多的电路),采用现有的测试生成算 法仍然不能达到令人满意的结果.
目录 第一章引论 1测试的重要性 1测试码生成的基本概念 1判定树隐含枚举 1回朗 1D-前沿 3 1双向蕴含 1唯一敏化 1全局蕴含 1搜索状态 1E-前沿 1故障模型固定型故障 1其余故障模型 1测试生成组合电路测试生成 1时序电路测试生成 1并行测试生成 1可测试性分析 1可测试性设计 1小结 参考文献 第二章测试生成算法 2组合电路测试生成PODEM算法 2FAN算法 2.