[高速集成电路电光测量理论及应用技术]田小建

【高速集成电路电光测量理论及应用技术】田小建.pdf单位代号:10183 学号:950502 吉林大学博士学位论文 田小建吉林人学博:学位 前 言 信息科学的飞速发展依赖于高速集成电路的发展。随养集成电路集成度 的提高和多芯片集成技术的应用,对工作在几个GHz以上的高速集成电路的 测量和分析变得至关重要。高速集成电路的设计和制造不仪需要集成电路外 部特性的整体测量,而且需要对集成电路内部进行无侵扰的动态在片测量.电光采样技术是完成这种测量的有效手段之“。国外从80年代起就开始了电 光采样测量的实验研究,它的原理基于GaAs晶体的电光效应,通过激光脉 冲对信号进行采样,在技术上分为内电光采样和外电光采样。在测量对象上.主要以器件和集成电路芯片中的微带线为主。吉林人学博1学位论文 第五章电光采样信号的显示与存储S5激光探针.5时域测量及其扫描标定方式5高速波形数字化S5虚拟数字存储示波器.参考文献 第六章GaAs高速集成电路及在片测量S6GaAs集成电路概述 6GaAs高速动态分频器工作原理6GaAs高速分频器单元电路分析S6功能测试与故障诊断 参考文献 结束语.致谢博士论文期间发表的论文及成果.
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