【大功率半导体激光器可靠性检测系统及可靠性分析】齐丽云.pdf

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目 第一章引言第二章半导体激光器可靠性检测方法概述 第三章 半导体激光器的电导数测试技术 第四章 大功率半导体激光器可靠性检测 分析仪.第五章 微机化操作软件第六章 实验结果及分析结束语中文摘要英文摘要吉林大学硕士论文 化,既可以避免器件在老化过程中损伤,又能达到老化筛选的目 的.老化后的器件再经过测试仪检测,可把虽然通过了老化但已 有退化迹象的器件分选出来 我们研究了大功率半导体激光器的测试技术,同时也研究了 其电导数曲线的特性,解决了大功率半导体激光器电导数测试的 重复性和测量参数的可信性等问题。初步研究了测量参数(m,b,h等)与器件可靠性的关系。快退化器件可通过测量曲线的形 状和相应的电导数参数被筛选出来,从而提供了一种方便、无损、快捷的筛选方法。吉林大学硕士论文 快退化 突然失效 缓慢退化 级慢退化 快退化 突然失效 a b t 图1(a)半导体激光器恒定功率工作下退化模型(b)半导体激光器恒定电流工作下退化模型 二、低频电噪声法.低频电噪声法是通过对半导体激光器进行低频电噪声谱测 量,找到噪声谱密度与器件可靠性的联系.半导体激光器的低频噪声包括1/f噪声及产生-复合(g-r)噪声,低频噪声的大小与器件的完整性密切相关。所以,激光器 的噪声不仅是决定光通信系统质量及接收机信噪比的重要因素 而且可以根据其低频噪声的大小来评估器件的可靠性和质量.在1.
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