【铜铝合金及其薄膜的X-射线线形分析】刘艳华.pdf

论文题目:铜铝合金及其薄膜的 X-射线形分析专业:凝聚态物理导师:王煜明刘艳华

一.摘要本文概要介绍了x射线线形分析理论的发展历史.较详细地叙述了×射线线形所理论.并用线形分析理论研究了铜合金铝合金及甚薄膜.得到了位错分布参数.位错密度P.平均位错分布参数me.Ms.平均位错密度单位体积内的弹性贮能<>.总乡了铜合金的πe.m.F.下与应变,应力的关条得到了单相合金与双相合金在进行拉伸应变过程中Me.而s.e.下的不同变化规律.对薄膜样品和块状样品的线形分析结果进往了比较,并做了简要的解释.

其三.当晶体内位错密斑很高时(10cm²]由于位错相互小区域的位错进行观案,而晶体的物理性质是由其内部所有缺陷决定的,仅研究局域缺陷并不能真正的解决问题。x射残能够弥电镜的不足x射残给出的结果是统计结果x射残不损坏试样,适用于各种厚薄样品.从而能够反映晶体缺陷的原来状态.这些.激励人们建立一套分析晶体缺陷的不射残方法,晶体的结构状态可由其本身结树以及缺陷的状态来描述。在射残测量中,晶体弦构反映在射残舒射峰的业罗及强发上.它由晶体中的愿子平均位置决定.而缺陷状态则反映在射线衍射峰的峰形上“它由晶族中的原子偏离其平均位置的状态决定。