【应用低频噪声对晶体管可靠性筛迷的方法及仪器】郭瑞存.pdf
吉林工化:学 T3 随着科学技术的飞连发展,电子系统被应用子各 个领域,对电子系统可靠性的要求却来越高。电子器 件在出厂前或装机前进行可毒性筛送,是提高电子系 统可靠性的重要手段.目前.国内外柔用的可素性筛选方法就是将晶体 管施加强左力.如高温,高死等,或进行一些坏境试 验。然后对其电参数进行测试,第选掉电参数下阵的 无器件。这种方法费时.费力,耗资大。而且具有一 定的破坏性,不能重复多次使用。所以迫切要求所究 一种快连、非破坏性的晶体管可常性筛送方法及仪器.本文在充分研宽了晶体管低数嘱声与可靠性关系 的前提下,提出了一种利用低嘱声对晶体管进行可 最性筛送的方法。
吉林工业厂学 研究毕业 目录 前言 第一章综述 1一1晶体管可靠性筛选的现状 1-2在用低频噪声<你晶体管可靠性筛迷的 基本原理 多1一了本课题的目的意义及待解决的问题。:12 第二章晶体管低频声的测量及成份分离方法14 2一1En一h噪声模型及噪声成份分析。。2一2噪声城份分离的数学模型.-15 2一了晶体管低频噪声的测量方法及其比转.—.2-4本筛送仪的原理-23 第三章晶体管可靠性給送仪的实現— -28 3-1本仪器的硬件电路设计.
就装上仪器,则仪器的早期故障率就会大大增加,所 以必须在晶体管装入仪器前,柔取处加强应力或其心 手段,把这种早期失效的晶体管尽可能地剔除掉。即 所谓可靠性篇送.目前国内外品体管的可肯性筛送大体可按下列最 骤进行:1高温贮存,高温贮存几乎对所有缺陪的管子都有 第送作用,对合格品有老燎和能定作用.2温棱循环,在交变温度<作用下.易于暴露管子内 各种材料的垫匹配不当、内引线键合不良,装配不当 等缺陷.垫冲击。其生用与相《似.但由干转换时问短.所以效果更好.山机械振动.机械冲击、机械振动和机械冲击对焊 点不良,装长不牢,内引线配置了今适等缺陷都起篇 迷作用.功率老化.[wshop_paid show_buy_btn="true"]