[应用低频噪声对晶体管可靠性筛迷的方法及仪器]郭瑞存

【应用低频噪声对晶体管可靠性筛迷的方法及仪器】郭瑞存.pdf吉林工化:学 T3 随着科学技术的飞连发展,电子系统被应用子各 个领域,对电子系统可靠性的要求却来越高。电子器 件在出厂前或装机前进行可毒性筛送,是提高电子系 统可靠性的重要手段.目前.国内外柔用的可素性筛选方法就是将晶体 管施加强左力.如高温,高死等,或进行一些坏境试 验。然后对其电参数进行测试,第选掉电参数下阵的 无器件。这种方法费时.费力,耗资大。而且具有一 定的破坏性,不能重复多次使用。所以迫切要求所究 一种快连、非破坏性的晶体管可常性筛送方法及仪器.本文在充分研宽了晶体管低数嘱声与可靠性关系 的前提下,提出了一种利用低嘱声对晶体管进行可 最性筛送的方法。吉林工业厂学 研究毕业 目录 前言 第一章综述 1一1晶体管可靠性筛选的现状 1-2在用低频噪声
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