《高阶累积量在晶体管低频噪声检测中的应用》已归入本站的数字资料栏目。可在本页查看基本书目信息与部分原页预览,并了解数字文件获取方式。本数字文件共16页,文件大小约0.26MB。
![[高阶累积量在晶体管低频噪声检测中的应用]李娟 扫描预览第1页](https://img.cuwen.com/p60/01/706732_01.avif)
- 专题
- 高阶累积量在晶体管低频噪声检测中的应用
- 类别
- 其他资料
- 页数
- 16页
- 大小
- 0.26MB
【高阶累积量在晶体管低频噪声检测中的应用】李娟.pdfDIMU,A INPUT PROMPTPLEASE INPUT THE FILESNAME:NAY OPEN *1:NAME NAF,ACCESS INPUT LET N=1024 FORI=1T0N INPUT*1:U(I) NEXTI CLOSE=1 LET A1=0 LET A2=0 LET A3=0 LET A4=0 FORI=1T0N LET A1=A1+U(I) LET A2=A2+U(I)2.ext fort2=0to t1 step-1 let c(t1.t2)=c(t1.t2-t1) next t2!ext for t2=t1 to-(n-1)step -1 let c(t1,t2)=c(t2.t1-t2) next t2 next t1!ext fort1=0 to n-1 for t2=0 to-(n-1)step-1 let`s=0 ifnum-1-t1>-t2 then for t-t2tonum-1-t1 let s=s+x(tim.REM ThekavefurmoftheLun-Frequency noiseoftransistor REM INPCTpleascinput the fifename:,a OPEN naF FOR INPUTAS1 SCREENKEY OFF XK10 F0Ri=1TC2019+20183 INPIT=1,x NEXT CLOSE=1 PRINT TheLn-Frequencynoisewaveform of=2transistot LINE(0}-(220,60) LINE(0,60)-LINE -(220.
———— 文字由OCR识别(未校验),可能存在错字;请以原始完整版为准。
