[功率晶体管快速筛选技术的综合评价]杭州大学

【功率晶體管快速篩選技術的綜合評價】杭州大學.pdf杭州大学研究生论文福纸 目录 一.引言 二.功率晶体管电老化筛选技术概述 5(一)常规满功弃老化(二)蜂值结温老化(三)超功率扫描(四)快速筛选法 三.舒价方案一 四快速筛选原理剖析一(一)对功率晶体管耐电冲击能力的筛选作用—-13(二)热敏参筛选原理剖析 五.结温测易 RM-50C红外微象系统结温测量原理 3(三)样品选取—(三)测量结果— 六对比与跟踪试验 七讨 结束語 致謝 参考文献— 20×20=400 第0页杭州大宁研究生论文福纸 ACenjrohenoive Appraisul of PowerTransistor Rapid Sereening Teciitue Xia Jingde ABSTRACT On the basis of analyzing of the rapid screening.me-chanisms,the results cf contrast and trace trials and jun-ction temporaturedeternination,acoipruhensive ayraisal opo.杭州大学研究生论文稿纸。有人认为半乎体四件负荷即便瞬时起过最大 额定估,亦将丰生新的失效机理,从而持互定 态度。另外,与快速筛选对应的失效机理尚来 进行系统的研完,似手显得依据不足,毛今来 见国内有关快速筛选技术够舒论性文章。由 国性不同,经渐有科技性拟所与美国DIALOG 系统联机捡索,也来见与此古接有天的文献.有文将在理论分析与实验研究也基础上,对快 速筛选技术给予全面的评价;对有争议的向 拦击相应的看法;所得击的结论,为快速筛选 在民品及革品上的推广拦供依据。
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