《铜基形状记忆合金双程记忆性能的研究》属于专题研究资料。本页提供资料基本信息、部分扫描页预览及数字文件获取信息。本数字文件共78页,文件大小约3.72MB。
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- 专题
- 铜基形状记忆合金双程记忆性能的研究
- 类别
- 专题研究
- 页数
- 78页
- 大小
- 3.72MB
【铜基形状记忆合金双程记忆性能的研究】.pdf浙江大学研究生学位论文用纸P.铜基形状记忆合金双程记忆性能的研究 摘要 本文以GA合全和auANi合全为 星对象,对铜基形状记忆今全双程记忆的机 理作了一定的研光,并对具有双程记忆性能 的元件实际使用的一些性能指林作了测试.结里表明:以SM训过程中引入的适量位 错可以使合全获得好的双程记忆性能。拘 東训过程中,除了住错的引入外,还有 余马氏体应力场导致特定取向马氏体生成; 2)对展服强度较高.硬化率低的合金乎取 拘束训练取得的放果较好,而对屈服强度较 低、硬化率较高的合金则宜采取S正训练方 法;)对有稳定化现象存在的合全,要先进 行去稳定化处理,才能得到较好的训练效果; 4)浙江大学研究生学位论文用纸P.thestablityoftwo-wayshapememorynropertiesbelow1o0 centigrade degree is very good,but therestoring force of two-wayshapememoryeffectstillneedtobeimoroved.浙江大学研究生学位论文用纸P.及讨论 個实除应用性能多数测定结果及讨论 王.结论 有在的问题以及今后可佚研究的方向 七致谢 参考文献 附录
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