《高密度磁记录SmCoAISiCr系列交换耦合膜的结构与性能研究》已归入本站的专题研究资料栏目。页面整理了该资料的基本信息、扫描页示例和数字版本获取说明。本数字文件共120页,文件大小约6.84MB。
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- 专题
- 高密度磁记录SmCoAISiCr系列交换耦合膜的结构与性能研究
- 类别
- 专题研究
- 页数
- 120页
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【高密度磁记录SmCoAISiCr系列交换耦合膜的结构与性能研究】王翔.pdfADissertationSubmitted toHuazhongUniversity ofScienceandTechnologyfor theDegreeof Doctorof PhilosophyinMicroelectronics andSolidStateElectronics Study on Microstructure andPropertiesof SmCo(Al,Si)/CrSeriesExchange-coupled LayerThin FilmsforHighDensityMagneticRecordingMedia PH.D.华中科技大学博士学位论文 Abstract Rigid diskisthemostimportantinformation storage devicewithitslargestorage capacity,swiftreadingandrecordingspeed,smallsize,longlife-span,highstability andlowpriceperbit.Theadvancehasrecentlyledtoanapproximate60 compound annualgrowthratefor arealdensities.(II)华中科技大学博士学位论文 录 IV 目 硬盘记录原理及对记录介质的要求 硬盘记录介质的发展状况 SmCo系列磁记录膜的发展 SmCo/Cr系列面内磁记录介质概况,超高密度磁记录介质的发展前景 本文的研究内容及意义 SmCo/Cr薄膜的制备及性能研究 2SmCo/Cr薄膜性能的影响及讨论 3SmCoAlSi/Cr薄膜的制备及性能 3.
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