【低温烧结的PZT压电陶瓷材料】第四组元对PZT-BF-MCX系烧结和电性能的影响 - 江乃鸿.pdf

摘要本文在前两届颐士论文的基础上,对PZT-BF-MCX(M为两价阳离子,X为五价或六价阳离子)四元系统的烧结和电性能作了进一步的探讨,找到了0PZT-0BF 0.BCV系两相共存区范围及品信常数随Z/Ti比的变化趋势,给出了较佳的第四组元及其较优的添加量范围实了随Sr量的增加,系统的两相共存区变窄并向富Zr方向移动,同时随SCN量的增加,系统烧成温度降低.个电常数提高,压电常数呈先升后降的曲线变化,通过不同第四组元对PZT-BF-MCX四元系统性能影响的研究,分别讨论了Sr Ba,Pb,Cu,Nb,W,Bi,Fe及锰等离子对系统的烧结性能,电性能以及极化工艺的单独

五.P2T-BF-BN的极亚总结血参考文区致激附录部分发射型压电材料的行业标维<二)部分四元录线的身射才线行射图英持要及关建词华南理工大学学位论文编纸第页

对2个四元系流的性能和各组分的作用有狂一步的了解,为了探索具有双重放应“的我的节四组元,更为了早日将PT瓷的低温烧结实用化,本论文将重点研究节四组元对PZT-BF-MCX系的它性能和烧结性能的影响,并借助于x一射线行射及扫描电镜分析手段,条讨其筑体结构以及烧结和改性机理.在保证低温烧结的前提下,提高淡体的性能,力求达到成接近发身才型低电材料的实用化性能指标。