【用脉冲展宽法测量光电器件的响应时间】潘清艳.pdf

摘要近几年,光电器必在测量和通迅工程方面的应用越来越广泛,以致精确地了解它们的將性具有很里要的意义。在现代光纤通信心统中,信息容量主要取决于所选用的光电器件的响应时间,要远用响应时间快的光电器此必须对各种光电器件的响应时间进行则量.半导体发光器的响应时间主要取决于载流子寿命、器件的结电容和电路阻抗。半导体摇刚器蚀的响应时间主要受光生载流子的抑散时间、它们在势垒区中漂移时间水势垒区电容引起的丸时间常数三因素的共同影响.使统的浏量响应时间的方法可归纳为带冕刚量法、相位测量法、示波器法和方波刚试法等。

直流放大带来的零点漂移世问题,提交了量的稳定性和可靠性。4.脉冲展冕生万适用于连续脉冲和单脉冲,故可测出平均值,也可浏出瞬时值。5脉冲展竞法的了过程是线性的。6.电路简单、稳足可靠,遇竹低.脉冲展竟法可推广应闲到光距技术和激光雷达等。还可量传输线、了统的延迟时间等。

第一章引言近几年,光电器件在测易和通讯工程方面的应用越来越广泛,以致精确地了解它们的持性其有很大的意义。在现代光纤通信了统中,信息容量取决于所选用的光电器仲的响应时间,要遇用响应时间快的光电器沙必须对各种光电器件的响应时间进行测号.在今天的时域刚号领域中,脉冲沉量种学技术是非常重雯的须目。通讯、电视、雷达中一直使用脉冲。自由空间需迟可用遥感来确定目标位置和速度。闭路雷迷或时域反射升(TDR)用于遥则波导信号传输心统。另一主要用途是用在快迷处理信息计算机中。