[光学应用测量技术]艾勇

本页收录《光学应用测量技术》,资料类别为科技工程资料。本页展示资料概况及部分扫描内容,同时提供数字文件获取信息。本数字文件共333页,文件大小约6.71MB。

[光学应用测量技术]艾勇 扫描预览第1页
专题
光学应用测量技术
类别
科技工程
页数
333页
大小
6.71MB

【光学应用测量技术】艾勇.pdf艾勇,湖北黄石人,生干 1958年1月年毕业于湖 北师范学院物理系井留校任 教。1986年考入武汉大学研究 生院,在物理系攻读光学专业,1989年毕业并获硕上学位.1991-1993年银国家教委选 派到日本国立静冈大学工学部 光电机械工学系访向研究,现 为湖北师范学院物理系讲师.自1989年以来共发表国际、国 内论文十余篇,多次参加国际 学术会议并交流论文。主要从 事研究方向:光学测量与光信 息处理技术。(鄂)14号 最新光学应用测量技术/艾勇编著:一武汉:1994,4./T51.最 I.艾.光学一应用光学-测量方法 N 最新光学应用测量技术 艾勇编著 插页:3字数:272千 1994年4月第一版 印数1.2500册.的方法中去,而这往往容易导出新技术的开发。另外,养成观察从 表面上看不出有相互关系的不同技术之间的关联性的习惯,是引 导你发现埋藏在深处的极其有价值的新技术所不可缺少的条件.本书的各章节中尽量体现了各项技术之间的相互联系性,但由于 编者水平有限,可能这种尝试并不很成功,希望能从读者处得到许 多有益的启示,以改进今后的工作.鉴于我国自前专门介绍光学测量方面的书籍暂不多见,作者 根据多年来从事光学测量工作的经验和收集到的大量最新中外文 献资料编写了这本书,目的是为我国从事光学测量及相关专业人 员提供一本较系统的参考资料.由于编写时间仓促,本书中定有许多不妥之处,恳请读者给予 指教。
———— 文字由OCR识别(未校验),可能存在错字;请以原始完整版为准。

🔒 下载高清完整版
解锁价格:39.00 元
支付成功后自动显示下载地址,无需注册,可长期查看。
已经购买过?查询 / 恢复下载权限
完整订单号或支付交易号可直接恢复;也可以输入购买邮箱查询历史订单。问题反馈:cuwen#foxmail.com (#换@)