【高频微波半导体器件的计量测试】曹余录董新韦强中国计量.pdf
无线电计量测试丛书15 高频、微波半导体器件的 计量测试 曹余录董新韦强编著
无线电计量测试丛书编委会 氏笔划为序)王义举 王立吉 戈锦初 古乐天 汤世贤 刘全宝 李世雄 吴鸿适 张世箕 张 伦 陈成仁 周清一 郭允晟 夏虎林 倪伟清 诸维明 席德熊 黄志沟 本分册责任编委:李锦林 孙风金
前言 关于按学科 分类组编计量测试丛书的总体设想和统一安排,在中国计量 测试学会的高度重视和实际支持下,由本编委会邀请作者、组织编写和审订的,其目的是比较系统地传播无线电计量测 试科学技术知识,促进电子学与无线电技术的发展,以适应 科技进步和社会主义现代化建设的需要.本丛书主要论述高频和微波电磁量的计量测试问题,一 般不包括直流和低频的内容。丛书第一分册为“概论”,其 余各分册分别阐述各主要参量及数据域的测试。